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图书信息
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电子器件辐射效应仿真技术
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| ISBN： | 9787030805010 |
定价： | ￥128.00 |
| 作者： | 丁李利，陈伟，王坦著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2025年03月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 184页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN602 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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8
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库区7/泰安展厅库/样本7
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2025-09-19
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其它供货商库存合计
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202
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2025-09-19
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图书简介 | | 本书主要介绍总剂量效应仿真技术、单粒子效应仿真技术、位移损伤仿真技术、瞬时剂量率效应仿真技术、辐射效应仿真软件等内容，给出粒子输运仿真、器件级仿真、电路级仿真等不同层级仿真手段在辐射效应研究中的应用案例。 |
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