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图书信息
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地外天体着陆起飞试验技术
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| ISBN: | 9787515924809 |
定价: | ¥89.00 |
| 作者: | 黄伟[等]著 |
出版社: | 中国宇航出版社 |
| 出版时间: | 2024年12月 |
开本: | 27cm |
| 页数: | 205页 |
装祯: | 精装 |
中图法: | V448.233 |
相关供货商
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北京人天书店有限公司
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22
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库区4/样本4
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2025-12-17
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其它供货商库存合计
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645
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2025-12-05
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图书简介 | | 本书内容涵盖航天器低重力模拟试验技术、地外天体表面特性模拟技术、试验指挥与测量技术、试验保障技术、虚拟试验技术、人在回路着陆起飞试验技术、典型试验实施方案等内容。本书凝炼了著者多年来在探月工程和火星探测工程研制过程中的工程实践经验及取得的一些创新性成果。 |
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