同类推荐
-
-
学术新手村:做研究与写论文
-
¥69.00
-
-
学术智能体:巧用Academic Agent高效做科研
-
¥69.00
-
-
6S经验萃取:助力企业业务破局，赋能个人绩效增长
-
¥68.00
-
-
未来已来:解码新时代的智能人生
-
¥69.00
-
-
科技革命与产业变革
-
¥78.00
-
-
魔鬼出没的世界
-
¥68.00
-
-
数智化知识生态系统的复杂构成、稳态演化与知识协同
-
¥156.00
-
-
院校资源配置与学术职业发展比较研究
-
¥72.00
-
-
基于异构学术网络的学术影响力评估和预测
-
¥78.00
-
-
科技英语论文写作与发表
-
¥56.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
专利视角下的半导体量检测关键技术
|
| ISBN： | 9787513094962 |
定价： | ￥99.00 |
| 作者： | 国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心组织编写 |
出版社： | 知识产权出版社有限责任公司 |
| 出版时间： | 2024年09月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 218页 |
中图法： | G306 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
北京人天书店有限公司
|
21
|
库区4/样本4
|
2026-05-28
|
|
其它供货商库存合计
|
50
|
|
2026-05-06
|
图书简介 | | 本书创新性地开展“双线联动”和“双维定位”特色分析，重点研究了半导体产业关键核心技术的专利布局脉络和重点申请人布局情况，研究内容紧扣当下产业急需和未来发展趋势，不仅可以为现有科研工作提供有力的支撑，而且为未来的科研工作提供了有效的科研情报信息。 |
|