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图书信息
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X射线粉末衍射技术:测量与分析基础:fundamentals of measurement and analysis
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| ISBN： | 9787122457202 |
定价： | ￥58.00 |
| 作者： | 王春建编著 |
出版社： | 化学工业出版社 |
| 出版时间： | 2024年08月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 184页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | O434.1 |
相关供货商
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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3
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库区13/样本13/样本4
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2026-08-15
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其它供货商库存合计
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106
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2026-08-14
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图书简介 | | 本书着重介绍衍射图谱的产生过程和各类影响因素，以及与物相分析功能的相关性。在测量技术方面，详细介绍了衍射仪中各类光路元器件的工作原理和参数设置，并对测量过程的每个环节进行了详细论述。在物相分析方面，针对最常用的物相鉴定功能开展了鉴定原理、鉴定方法、鉴定技巧、数据库应用等方面的详细论述，并为鉴定结果的可信度提出评估方法和依据；针对物相定量分析、微结构分析等深层次功能，由浅入深地介绍了数学原理的推导、功能发展的历程，以及部分案例的应用，并且论证了分析方法的简化过程等内容。最后对衍射仪的维护保养、X射线辐射安全等方面进行了详细介绍，并对X射线衍射技术的学习方法和技巧进行了深入讨论，总结性指出了技术能力晋升的途径。 |
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