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图书信息
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微波和太赫兹波段复介电常数与复磁导率测量技术
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| ISBN： | 9787563572465 |
定价： | ￥58.00 |
| 作者： | 杨闯著 |
出版社： | 北京邮电大学出版社 |
| 出版时间： | 2024年06月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 131页 |
中图法： | TM934.33 |
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902
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2026-01-30
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图书简介 | | 本书面向微波和太赫兹波段移动通信、卫星通信与定位技术、雷达遥感、无损检测等对材料复介电常数与复磁导率的需求，通过构建二端口传输线法测量的解析与人工神经网络反演模型，突破当前从二端口传输线法传输/反射、仅反射或仅传输测试S参数反演复介电常数与复磁导率的技术瓶颈，支持板材、薄膜、粉末/颗粒等物质形态下的测量，支持单层待测物、多层夹具内待测物的测量。 |
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