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图书信息
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微波和太赫兹波段复介电常数与复磁导率测量技术
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| ISBN: | 9787563572465 |
定价: | ¥58.00 |
| 作者: | 杨闯著 |
出版社: | 北京邮电大学出版社 |
| 出版时间: | 2024年06月 |
开本: | 24cm |
| 页数: | 131页 |
中图法: | TM934.33 |
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892
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2026-05-11
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图书简介 | | 本书面向微波和太赫兹波段移动通信、卫星通信与定位技术、雷达遥感、无损检测等对材料复介电常数与复磁导率的需求,通过构建二端口传输线法测量的解析与人工神经网络反演模型,突破当前从二端口传输线法传输/反射、仅反射或仅传输测试S参数反演复介电常数与复磁导率的技术瓶颈,支持板材、薄膜、粉末/颗粒等物质形态下的测量,支持单层待测物、多层夹具内待测物的测量。 |
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