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图书信息
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电阻抗断层成像技术:方法，历史和应用:methods, history and applications
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| ISBN： | 9787567924680 |
定价： | ￥200.00 |
| 作者： | (加)安迪·阿德勒(Andy Adler)，(英)大卫·霍尔德(David Holder)主编 |
出版社： | 中国协和医科大学出版社 |
| 出版时间： | 2024年10月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 18,548页 |
中图法： | R445 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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1
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库区2/泰安展厅库/样本4
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2025-12-03
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其它供货商库存合计
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499
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2025-12-03
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图书简介 | | 本书内容丰富，涵盖了EIT技术的各个方面。首先，回顾EIT的历史，了解EIT的起源和发展脉络，以及发展过程中的重大突破和里程碑事件。接着从EIT的基本原理出发，深入剖析了其数学基础和物理机制；进而详细介绍了EIT系统的硬件设计和软件设施，包括数据采集、图像重建等关键技术；最后，重点关注了EIT技术在医学、工业检测等领域的应用，展示了其巨大的应用潜力和价值。通过本书，您将了解EIT在各种医学场景中的潜在应用，以及其在临床诊断、疾病监测和治疔过程中的价值。 |
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