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图书信息
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纳米器件空间辐射效应
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| ISBN： | 9787030786104 |
定价： | ￥198.00 |
| 作者： | 陈伟[等]著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2024年06月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 280页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN103;TL7 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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38
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库区4/库区7/样本4/样本7
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2026-04-04
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其它供货商库存合计
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202
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2026-04-03
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图书简介 | | 本书以先进的纳米工艺器件为研究载体，重点阐述纳米材料辐射损伤微观机制、纳米器件辐射效应新机理、纳米器件可靠性、纳米电路辐射效应及加固设计新方法、纳米器件和电路敏感区域分布和薄弱环节分析的重离子微束模拟试验方法等，为我国未来宇航用高端核心器件的抗辐射加固奠定理论和技术基础，推动我国抗辐射加固技术自主创新发展。 |
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