同类推荐
-
-
互换性与技术测量
-
¥45.00
-
-
互换性与测量技术基础
-
¥55.00
-
-
互换性与技术测量
-
¥59.00
-
-
互换性与检测实训
-
¥45.00
-
-
测试技术基础与传感器应用
-
¥48.00
-
-
公差配合与测量技术
-
¥46.80
-
-
精密检测技术
-
¥55.00
-
-
精密检测技术
-
¥55.00
-
-
精密检测技术
-
¥55.00
-
-
工业产品几何量检测
-
¥59.80
|
|
图书信息
|
|
|
|
互换性与测量技术基础
|
| ISBN： | 9787560671215 |
定价： | ￥29.00 |
| 作者： | 万一品，贾洁主编 |
出版社： | 西安电子科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2024年04月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 180页 |
中图法： | TG801 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
北京人天书店有限公司
|
22
|
读买1/泰安展厅库
|
2025-12-08
|
|
其它供货商库存合计
|
192
|
|
2025-12-08
|
图书简介 | | 本书共分为6章。第1章总领全书，详细介绍了互换性与标准化的基本概念；第2-4章从精度设计和国家标准基础知识储备出发，详细介绍了尺寸公差、几何公差和表面粗糙度的相关内容；第5章从误差测量技术出发，详细介绍了几何量检测技术基础内容；第6章从知识应用角度出发，详细介绍了典型零部件的精度设计内容。 |
|