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图书信息
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互换性与测量技术基础
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| ISBN： | 9787560671215 |
定价： | ￥29.00 |
| 作者： | 万一品，贾洁主编 |
出版社： | 西安电子科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2024年04月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 180页 |
中图法： | TG801 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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1
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泰安展厅库
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2025-08-28
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其它供货商库存合计
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500
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2025-08-28
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图书简介 | | 本书共分为6章。第1章总领全书，详细介绍了互换性与标准化的基本概念；第2-4章从精度设计和国家标准基础知识储备出发，详细介绍了尺寸公差、几何公差和表面粗糙度的相关内容；第5章从误差测量技术出发，详细介绍了几何量检测技术基础内容；第6章从知识应用角度出发，详细介绍了典型零部件的精度设计内容。 |
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