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图书信息
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阵列天线分析与综合
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| ISBN： | 9787040606751 |
定价： | ￥64.00 |
| 作者： | 薛正辉，李伟明，任武编著 |
出版社： | 高等教育出版社 |
| 出版时间： | 2024年03月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 463页 |
中图法： | TN820.1 |
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50
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2026-04-21
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图书简介 | | 本书一方面继承了第1版的主要内容，包括阵列天线的基本概念、直线阵列分析与综合的基本理论与方法、平面阵列分析与综合的基本理论与方法以及阵列天线的最优化设计等。另一方面，补充了很多属于阵列天线分析与综合理论与技术的新内容，包括非均匀相位激励分析、扫描线阵之相扫频扫实现、维伦纽夫(Villeneuve)综合法、差方向图的佐洛塔廖夫(Zolotarev)综合法、平面阵的栅瓣及其抑制条件、平面阵栅格形状及扫描、平面阵列的性能总结、赋形方向图的优化综合——变尺度算法、赋形方向图的优化综合——欧查德埃利奥特(OrchardElliott)方法、基于遗传算法的阵列天线优化综合、基于粒子群算法的阵列天线优化综合等。本书是阵列天线工程应用的基础理论部分，主要侧重于介绍阵列天线分析与综合设计中的数学方法与实施手段。 |
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