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图书信息
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Java研发自测入门与进阶
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| ISBN： | 9787115629739 |
定价： | ￥89.80 |
| 作者： | 林宁，魏兆玉著 |
出版社： | 人民邮电出版社 |
| 出版时间： | 2024年03月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 334页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TP312.8JA |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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39
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库区13/库区4/库区7/样本13/样本4
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2026-06-15
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其它供货商库存合计
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4
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2026-06-15
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图书简介 | | 本书共11章，分为三篇。研发自测基础篇(第1-6章)，主要介绍了日常工作使用频率高的基础知识，包括软件测试的基本概念、代码评审的方式、单元测试等内容。研发自测高级篇(第7-10章)，首先介绍了验证程序性能的方法和程序并发安全的相关知识，然后深入讲解了什么是TDD和如何为重构编写测试等内容。源码分析篇(第11章)，对常见测试框架和库的源码(包括JUnit、Mockito、JaCoCo等)进行了分析。 |
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