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图书信息
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公差配合与技术测量
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| ISBN： | 9787040612646 |
定价： | ￥36.80 |
| 作者： | 薛庆红，许岚，苗盈主编 |
出版社： | 高等教育出版社 |
| 出版时间： | 2024年01月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 194页 |
中图法： | TG801 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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66
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库区4/样本4
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2025-08-27
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其它供货商库存合计
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50
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2025-07-30
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图书简介 | | 全书共分7章，内容包括绪论，尺寸的公差、配合与检测，几何公差与检测，表面粗糙度与检测，圆锥和角度尺寸的公差与检测，光滑极限量规设计，常用结合件的公差与检测，并在关键知识点配有数字化资源，以及国家级职业教育专业教学资源库课程“几何量精密测量”，供读者在线学习。根据职业教育的目标和要求，全书重点介绍产品几何公差的含义及检测方法，对于几何精度设计没有过多介绍。 |
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