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图书信息
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半导体物理与器件实验教程
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| ISBN： | 9787560769523 |
定价： | ￥26.00 |
| 作者： | 计峰主编 |
出版社： | 山东大学出版社 |
| 出版时间： | 2023年10月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 129页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | O47-33;TN303-33 |
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2025-11-27
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图书简介 | | 本书主要分为半导体物理实验及半导体器件实验两部分。半导体物理实验包括单晶硅材料的激光定向、单晶硅中晶体缺陷的腐蚀显示、半导体材料导电类型测定、四探针法测试半导体电阻率、霍尔效应实验、高频光电导法测少子寿命、半导体材料光学特性的测量、MOS结构C-V特性测量、PN结势垒特性及杂质的测试分析、PN结正向特性的研究和应用等十个实验。 |
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