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图书信息
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片上系统测试设计与优化
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| ISBN： | 9787030769183 |
定价： | ￥88.00 |
| 作者： | (瑞典)埃里克·拉森(Erik Larsson)著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2024年01月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 10,314页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TP360.21 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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30
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库区7/样本4/样本7
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2026-06-11
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其它供货商库存合计
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202
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2026-06-11
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图书简介 | | 本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。《片上系统测试设计与优化》由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。 |
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