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图书信息
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现代光学测试技术
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| ISBN： | 9787030366641 |
定价： | ￥88.00 |
| 作者： | 苏俊宏，田爱玲，杨利红编著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2013年03月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 335页 |
装祯： | 平装 |
| 中图法： | TB96 |
印次： | 2023.07重印 |
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2026-04-24
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图书简介 | | 本书共十一章，第一、二章介绍了现代光学测试技术的基本理论及其发展；第三章介绍了光学材料及其基本参数的测试问题；第四章介绍了几种常用的典型干涉仪；第五章是光电相位探测技术；第六、七章分别介绍了平面元件与球面元件测试技术；第八章介绍了非球面测试技术的基本知识及测试方法；第九章介绍了干涉测长技术；第十章介绍了莫尔条纹测量技术；第十一章介绍了光学系统成像质量评价方法。 |
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