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图书信息
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机载典型电子元器件热带海洋环境腐蚀行为与机理研究
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| ISBN： | 9787512439962 |
定价： | ￥59.00 |
| 作者： | 郁大照[等]著 |
出版社： | 北京航空航天大学出版社 |
| 出版时间： | 2023年11月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 137页 |
中图法： | V242 |
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381
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2026-01-28
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图书简介 | | 本书对机载典型电子元器件热带海洋环境腐蚀行为与机理进行了研究，主要内容包括：机载典型电子元器件故障分析、机载典型电子元器件腐蚀加速试验方法、机载典型电子元器件热带海洋环境对比试验、机载电子元器件腐蚀仿真分析、外部防护产品的防腐效应试验与效果分析及机载电子元器件腐蚀防护策略等。 |
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