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图书信息
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高等仪器分析
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| ISBN： | 9787030762153 |
定价： | ￥98.00 |
| 作者： | 王霆，孙铁东编著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2023年09月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 267页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | O657 |
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202
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2025-12-19
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图书简介 | | 本书围绕分子结构解析和材料表界面研究，分九章系统介绍了与之相关的各种先进仪器分析方法，包括：质谱分析法、一维核磁共振波谱分析法、二维核磁共振波谱分析法、红外和拉曼波谱分析法、紫外和荧光波谱分析法、X射线衍射分析法、X射线光电子能谱分析法、表面显微分析法。 |
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