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图书信息
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电子学系统辐射效应与加固技术
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ISBN: | 9787576705409 |
定价: | ¥128.00 |
作者: | 许献国,曾超著 |
出版社: | 哈尔滨工业大学出版社 |
出版时间: | 2023年05月 |
开本: | 24cm |
页数: | 390页 |
装祯: | 精装 |
中图法: | TN602 |
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2025-08-13
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图书简介 | 本书系统性地介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1-3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用,以及电子元器件的辐射效应;第4-6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试,以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真;第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。 |
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