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图书信息
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电子学系统辐射效应与加固技术
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| ISBN： | 9787576705409 |
定价： | ￥128.00 |
| 作者： | 许献国，曾超著 |
出版社： | 哈尔滨工业大学出版社 |
| 出版时间： | 2023年05月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 390页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | TN602 |
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2026-10-27
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图书简介 | | 本书系统性地介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1-3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用，以及电子元器件的辐射效应；第4-6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试，以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真；第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。 |
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