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图书信息
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公差配合与技术测量
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| ISBN： | 9787562149163 |
定价： | ￥29.00 |
| 作者： | 杨小刚，张红主编 |
出版社： | 西南师范大学出版社 |
| 出版时间： | 2010年07月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 144页 |
中图法： | TG801 |
印次： | 2020.03重印 |
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2026-06-11
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图书简介 | | 本书包括绪论、量具使用、尺寸公差与配合、形状和位置公差、表面粗糙度、技术测量六部分。具体内容包括：互换性、加工误差与公差、公差标准、技术测量、概述、游标量具、螺旋测微量具、指示表类量具等。 |
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