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图书信息
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LabVIEW与天线测量技术
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| ISBN： | 9787560668413 |
定价： | ￥49.00 |
| 作者： | 马玉丰[等]编著 |
出版社： | 西安电子科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2023年06月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 256页 |
中图法： | TP311.561;TN822 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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1
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库区4
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2026-02-07
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其它供货商库存合计
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500
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2026-02-06
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图书简介 | | 本书共15章，可分为三大部分。第1章-第10章为基础篇，介绍了LabVIEW的基础知识，包括前面板、后面板、程序模块、函数、数据格式、循环与事件结构、文件I0、画图与显示、MAX与仪器驱动接口、VI显示设置与美化、程序代码的保护、生成可执行与安装程序。第11章、第12章为高级篇，介绍了天线测试系统采集软件与分析软件的源代码详细解析。第13章-第15章为进阶篇，介绍了天线测试系统集成相关知识。通过对这三大部分的学习，读者能了解到天线测试参数、天线测试系统组成，测试系统的工作原理、设计天线测试系统的关键知识，这些都是一名天线测试系统集成与软件工程师的必备常识。 |
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