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图书信息
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瞬时电离辐射效应
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| ISBN： | 9787030740441 |
定价： | ￥180.00 |
| 作者： | 陈伟[等]著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2023年05月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 208页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | O644.2 |
相关供货商
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北京人天书店有限公司
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2025-12-20
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202
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2025-12-19
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图书简介 | | 瞬时电离辐射效应是电子系统最常见的一种辐射效应。瞬时电离辐射与半导体材料相互作用，感生光电流，改变器件及电路的特性和功能，影响电子系统的可靠性。本书主要介绍核辐射环境及效应、模拟集成电路和大规模数字集成电路的瞬时电离辐射效应、瞬时电离辐射下的脉冲宽度效应、器件级及电路级仿真方法、瞬时辐射感生闩锁和阻锁、瞬时电离辐射效应试验技术、空间排序法在电子器件抗瞬时电离辐射性能评估中的应用。 |
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