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图书信息
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特征值问题的下谱界与多网格离散
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| ISBN： | 9787564387310 |
定价： | ￥58.00 |
| 作者： | 张宇著 |
出版社： | 西南交通大学出版社 |
| 出版时间： | 2022年06月 |
开本： | 23cm |
| 页数： | 204页 |
中图法： | O175.9 |
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2026-02-05
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图书简介 | | 本书主要从特征值的下谱界和多网格离散两个重要角度探索和发展特征值问题的有限元求解，主要阐述了变系数二阶椭圆及Stokes算子的渐近下谱界、Steklov特征值问题的渐近下谱界、流体力学中特征值问题的可保证下谱界、重调和特征值问题Ciarlet-Raviart混合法的二网格离散、反散射中Steklov特征值问题的多网格校正、反散射中Steklov特征值问题的自适应算法等内容。本书将所得理论结果用于物理科学及应用工程等领域中的特征值问题，以对现有关于特征值问题下谱界及多网格离散理论作补充，在一定程度上可推动现有理论的发展和完善。 |
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