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图书信息
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材料电子及中子分析技术
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| ISBN： | 9787121447105 |
定价： | ￥69.00 |
| 作者： | 朱和国，黄鸣主编 |
出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版时间： | 2020年12月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 350页 |
中图法： | TB3 |
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2025-09-01
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图书简介 | | 本书首先介绍了晶体学基础、电子衍射的物理基础、衍射成像、衬度理论、高分辨成像、复杂电子衍射花样、原位透射电子显微分析技术、透射电子显微镜、扫描电镜、电子探针、电子背散射衍射的原理与应用；然后介绍了用于表面分析的俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜、低能电子衍射、反射高能电子衍射及电子能量损失谱等的原理及其应用；最后介绍了原子探针和中子分析技术。 |
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