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图书信息
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光学测量的条纹分析：理论、算法与应用：theory, algorithms, and applications
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| ISBN： | 9787560592923 |
定价： | ￥58.00 |
| 作者： | (墨)塞尔文(M. Servin)，(西)基罗加(J. A. Quiroga)，(墨)帕迪利亚(J. M. Padilla)著 |
出版社： | 西安交通大学出版社 |
| 出版时间： | 2020年10月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 249页 |
中图法： | TB96 |
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2025-09-01
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图书简介 | | 本书介绍了现代光学测量技术中有关条纹分析的基本原理、基本方法以及近年来的创新工作。本书阐述的涉及条纹图解调方法对应的光学测量技术包括：光学干涉法、阴影莫尔法、条纹投影法、光测弹性学、莫尔干涉术、莫尔偏折术、全息干涉法、剪切干涉法、数字全息法、散斑干涉法。本书主要创新：一是提供了一个采用频率传递函数对相移干涉法进行统一傅里叶表述的统一的理论框架；二是应用随机过程研究相移算法的信噪比与传染噪声统计特性的函数关系。本书对大多数通用的空域和时域干涉技术进行了全面分析，包括傅里叶干涉术、空间相移方法、相位去包裹、自标定相移算法、正则化相位解调算法以及正则化相位跟踪法和异步自校正算法等。 |
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