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图书信息
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互换性与技术测量
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| ISBN： | 9787302611431 |
定价： | ￥42.00 |
| 作者： | 孙庆唐主编 |
出版社： | 清华大学出版社 |
| 出版时间： | 2022年06月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 213页 |
中图法： | TG801 |
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2025-12-11
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图书简介 | | 本书主要包括概论、尺寸极限与配合、配合公差的应用、几何公差及检测、公差原则及几何公差选择、表面粗糙度、光滑极限量规、尺寸链、公称尺寸常用测量工具等内容，集理论教学、实操实训为一体，采用最新国家标准，文字叙述精炼，内容图文并茂、通俗易懂。 |
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