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图书信息
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互换性与技术测量
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| ISBN： | 9787568082969 |
定价： | ￥39.00 |
| 作者： | 赵燕，吴智慧主编 |
出版社： | 华中科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2022年07月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 224页 |
中图法： | TG801 |
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2025-12-16
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图书简介 | | 本书从互换性生产要求的实际出发，依据我国在2020年发布的《产品几何技术规范(GPS)》等最新国家标准编写，简要系统地介绍了几何量公差的选用和检测的基本知识，阐述了技术测量的基本原理。全书共分十一章，主要内容包括绪论、孔与轴的极限与配合、长度测量基础、几何公差与误差检测、表面粗糙度、光滑极限量规、滚动轴承的公差与配合、圆锥的公差与配合、螺纹公差、键和花键的公差与配合、圆柱齿轮的公差与配合等。每章后面附有思考题与练习题，便于读者复习和巩固知识。 |
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