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图书信息
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光学合成孔径成像的共相位误差检测方法
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| ISBN： | 9787576308488 |
定价： | ￥88.00 |
| 作者： | 赵伟瑞著 |
出版社： | 北京理工大学出版社有限责任公司 |
| 出版时间： | 2022年04月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 306页 |
中图法： | TN957.52 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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1
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库区2/库区3/样本3
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2026-05-14
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其它供货商库存合计
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109
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2026-05-14
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图书简介 | | 本书介绍了合成孔径成像技术的发展现状和基本原理，对其中的关键技术——共相位误差检测方法进行了研究和阐述，其中包含基于经典光学原理的检测方法、近几年研究的空域到频域转换法、以及新兴的基于深度学习的检测方法等，对各种方法的理论依据、原理、数学模型的建立、误差影响因素等进行了详细阐述，并给出了相应的实验验证系统及分析。 |
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