同类推荐
-
-
互换性与技术测量
-
¥59.00
-
-
互换性与检测实训
-
¥45.00
-
-
精密检测技术
-
¥55.00
-
-
精密检测技术
-
¥55.00
-
-
精密检测技术
-
¥55.00
-
-
工业产品几何量检测
-
¥59.80
-
-
公差配合与测量技术
-
¥45.00
-
-
机械零件精度设计与检测
-
¥39.80
-
-
公差配合与测量技术
-
¥47.00
-
-
公差配合与技术测量
-
¥49.80
|
|
图书信息
|
|
|
|
公差配合与技术测量
|
| ISBN： | 9787307100640 |
定价： | ￥32.00 |
| 作者： | 袁斌，代晨主编 |
出版社： | 武汉大学出版社 |
| 出版时间： | 2012年01月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 224页 |
中图法： | TG801 |
印次： | 2016.05重印 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
102
|
|
2025-09-04
|
图书简介 | | 本书共分10章，内容包括绪论、极限与配合、测量技术基础、形位公差、表面粗糙度、圆锥的公差配合与检测、滚动轴承的公差配合、键与花键连接的公差配合与检测、螺纹的公差配合与检测、渐开线圆柱齿轮的公差配合与检测。 |
|