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图书信息
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FPGA芯片设计与测试技术研究
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| ISBN： | 9787567238992 |
定价： | ￥59.00 |
| 作者： | 张惠国，顾涵著 |
出版社： | 苏州大学出版社 |
| 出版时间： | 2022年02月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 196页 |
中图法： | TP332.1 |
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2026-05-25
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图书简介 | | 本书围绕基于SRAM的FPGA，基于岛状的架构，对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计，并设计了可扩展的FPGA配置电路以及可靠全局信号网络，同时对FPGA进行了抗辐照改进设计研究。本书详细解析了FPGA内部的逻辑、布线、配置、接口、可靠性设计、测试等方面的知识，涉及了FPGA芯片涉及的多个方面，可为从事FPGA芯片设计人员和FPGA应用工程师提供了芯片内部的设计知识，提升对FPGA器件的设计和应用能力。 |
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