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图书信息
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嵌入式处理器片上追踪调试技术
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| ISBN： | 9787567305809 |
定价： | ￥49.00 |
| 作者： | 扈啸，王耀华，阮喻著 |
出版社： | 国防科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2021年07月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 199页 |
中图法： | TP332 |
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2025-08-26
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图书简介 | | 本书针对嵌入式多核处理器的片上trace调试关键技术展开研究，对嵌入式处理器的调试模型和片上trace的实现模型、trace信息采集压缩技术、trace数据流的片上传输技术、片上trace的应用技术以及程序控制流错误检测技术，都进行了深入论述和研究。第1章和第2章介绍了本书的研究背景和主要内容，并从行业标准、业界产品、仿真器和学术研究四个方面详细介绍了片上调试的技术现状等。 |
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