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图书信息
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X射线衍射理论与实践:Ⅱ:Ⅱ
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| ISBN： | 9787122380128 |
定价： | ￥46.00 |
| 作者： | 黄继武，李周等编著 |
出版社： | 化学工业出版社 |
| 出版时间： | 2021年07月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 182页 |
中图法： | O434.1 |
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2025-11-07
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图书简介 | | 本书包括X射线衍射分析的3个专题应用和Rietveld全谱拟合精修方法。专题应用包括：宏观内应力的测量(第1章)、织构的测定与分析(第2章)和非晶态物质的X射线衍射分析(第6章)。每个专题应用都包括4个环节：从基础理论开始，导出实验原理和实验方法，最后结合科研需要，通过应用实例讲解，进行操作技能培训，并且通过课堂讨论问题、思考计算和实践操练对相关专题进行总结、归纳和技能提升。针对Rietveld全谱拟合精修方法，第3章详细阐述了Rietveld方法的基本原理和数学基础；第4章和第5章以Jade和Maud两种智能化精修软件为工具，提出了Rietveld方法在多晶材料中的各种具体应用方法。 |
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