同类推荐
-
-
数模集成电路设计基础教程
-
¥56.00
-
-
CMOS模拟集成电路版图设计与验证:基于Cadence…
-
¥129.00
-
-
现代SoC设计:基于ARM架构
-
¥169.00
-
-
集成电路版图设计实用教程
-
¥60.00
-
-
Altium Designer从零开始做工程之ATE载…
-
¥79.00
-
-
芯片制造:半导体离子注入技术与设备
-
¥89.00
-
-
EDA简史:半导体与集成电路设计技术的商业、生态与未来
-
¥89.00
-
-
EDA简史:半导体与集成电路设计技术的商业、生态与未来
-
¥89.00
-
-
EDA简史:半导体与集成电路设计技术的商业、生态与未来
-
¥89.00
-
-
集成电路硬件安全
-
¥79.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
集成电路芯片测试技术
|
| ISBN： | 9787560659541 |
定价： | ￥35.00 |
| 作者： | 居水荣，戈益坚主编 |
出版社： | 西安电子科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2021年03月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 200页 |
中图法： | TN407 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
500
|
|
2026-04-03
|
图书简介 | | 本书详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合\时序逻辑电路测试、ADC\DAC芯片测试、存储器\微控制器测试、集成运放\电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。 |
|