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图书信息
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集成电路芯片测试技术
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| ISBN： | 9787560659541 |
定价： | ￥35.00 |
| 作者： | 居水荣，戈益坚主编 |
出版社： | 西安电子科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2021年03月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 200页 |
中图法： | TN407 |
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502
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2025-12-10
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图书简介 | | 本书详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合\时序逻辑电路测试、ADC\DAC芯片测试、存储器\微控制器测试、集成运放\电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。 |
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