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图书信息
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X射线检测关键技术与应用研究
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| ISBN： | 9787561580684 |
定价： | ￥68.00 |
| 作者： | 方正编著 |
出版社： | 厦门大学出版社 |
| 出版时间： | 2021年03月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 329页 |
中图法： | TB302.5 |
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2026-06-08
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图书简介 | | 本书系统地介绍了X射线检测和CT重建方面的理论知识及应用实例。本书从X射线的基础理论知识开始，介绍了X射线检测的物理学基础。对射线检测各种方法进行了较为全面的描述，包括常规的X射线成像、射线光谱检测、CT重建等，还涉及前沿的吸收光谱检测、光/能谱CT、发射型计算机断层成像等领域。通读全书能系统地了解该领域的基础理论，把握良好的知识体系框架，有利于读者客观全面地分析和解决实际问题。 |
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