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图书信息
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X射线检测关键技术与应用研究
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ISBN: | 9787561580684 |
定价: | ¥68.00 |
作者: | 方正编著 |
出版社: | 厦门大学出版社 |
出版时间: | 2021年03月 |
开本: | 24cm |
页数: | 329页 |
中图法: | TB302.5 |
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2025-08-19
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图书简介 | 本书系统地介绍了X射线检测和CT重建方面的理论知识及应用实例。本书从X射线的基础理论知识开始,介绍了X射线检测的物理学基础。对射线检测各种方法进行了较为全面的描述,包括常规的X射线成像、射线光谱检测、CT重建等,还涉及前沿的吸收光谱检测、光/能谱CT、发射型计算机断层成像等领域。通读全书能系统地了解该领域的基础理论,把握良好的知识体系框架,有利于读者客观全面地分析和解决实际问题。 |
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