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图书信息
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公差配合与测量技术
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| ISBN： | 9787568053297 |
定价： | ￥43.80 |
| 作者： | 张晓宇，刘伟雄主编 |
出版社： | 华中科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2020年05月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 249页 |
中图法： | TG801 |
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2025-12-16
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图书简介 | | 本书主要内容包括绪论、测量技术基础、极限与配合、几何公差、表面粗糙度、量具与光滑极限量规、典型零件公差配合及检测、尺寸及几何公差测量技术。 |
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