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图书信息
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互换性与测量技术
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| ISBN： | 9787568257251 |
定价： | ￥42.00 |
| 作者： | 赵秀荣，鲁昌国主编 |
出版社： | 北京理工大学出版社有限责任公司 |
| 出版时间： | 2018年06月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 227页 |
中图法： | TG801 |
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更新日期
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8
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2025-12-15
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图书简介 | | 本书主要包括互换性与标准化，几何测量技术基础，尺寸公差与圆柱结合的互换性，几何公差与检测，表面粗糙度与检测，光滑工件尺寸检测，滚动轴承与孔、轴结合的互换性，圆锥的公差与配合，键与花键的公差与检测，螺纹公差与检测，圆柱齿轮公差与检测，共11章，并附有各章习题。 |
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