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图书信息
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功率开关器件损耗和变频调速系统故障诊断研究
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| ISBN： | 9787565046407 |
定价： | ￥32.00 |
| 作者： | 夏兴国著 |
出版社： | 合肥工业大学出版社 |
| 出版时间： | 2019年10月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 139页 |
中图法： | TM56;TN773 |
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2026-01-20
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图书简介 | | 本书全面介绍了功率开关器件功率损耗的定义及计算公式，以绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT)为研究对象进行损耗建模分析和研究。通过设定几种与提耗相关的主要影响因素的不同取值，仿真各种开通与关断波形，验证了影响因素与器件开关损耗的关系。 |
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