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图书信息
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X荧光勘查技术及其在地质找矿中的应用
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| ISBN： | 9787030558510 |
定价： | ￥228.00 |
| 作者： | 周四春[等]著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2020年09月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 11,440页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | O657.34;P624 |
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北京人天书店有限公司
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2026-04-06
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2026-04-06
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图书简介 | | 本书在对能量色散X射线荧光分析方法的物理原理，携带(手提)式X射线荧光仪的结构、工作原理及国内外主要商品化产品的技术性能进行介绍的基础上，系统讨论了基于携带(手提)式X射线荧光仪的X荧光勘查技术，包括现场测量方法、数据处理、图件编制、资料解释等。书中逐一针对天青石矿、金矿、铜矿、铅锌矿、(锂、铌钮等)稀有金属矿等的X荧光测量找矿技术问题进行了详细讨论，介绍了在这些矿产探矿工作中的成功应用实例。 |
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