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图书信息
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表面分析技术
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| ISBN： | 9787306066893 |
定价： | ￥200.00 |
| 作者： | (英)约翰·C.维克曼(John C. Vickerman)，(英)伊恩·S.吉尔摩(Ian S. Gilmore)编 |
出版社： | 中山大学出版社 |
| 出版时间： | 2020年12月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 530页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | O652 |
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2025-10-09
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图书简介 | | 本书介绍表面分析主要技术，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析，每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练，判断自己对书中知识内容掌握的程度。 |
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