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图书信息
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材料分析技术
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| ISBN： | 9787030291059 |
定价： | ￥108.00 |
| 作者： | (新加坡)Sam Zhang，(新加坡)Lin Li，(新加坡)Ashok Kumar著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2010年10月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 265页 |
装祯： | 平装 |
| 中图法： | TB3 |
印次： | 2017.08重印 |
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2026-04-24
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图书简介 | | 本书共分十一章，分别是接触角在表面分析中的应用、X射线光电子能谱和俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜和原子力显微镜、X射线衍射、透射电子显微镜、扫描电子显微镜等。 |
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