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图书信息
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宽禁带半导体金刚石辐照缺陷的光致发光与光致变色
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| ISBN： | 9787030576651 |
定价： | ￥99.00 |
| 作者： | 王凯悦著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2018年06月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 136页 |
装祯： | 平装 |
| 中图法： | O482.31 |
印次： | 2020.07重印 |
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2026-02-19
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图书简介 | | 本书采用透射电镜近阀能辐照技术，对IIa型、IIb型、Ia型、Ib型等多种金刚石进行电子辐照以形成孤立的本征缺陷，通过研究光致发光光谱中光学中心的振动光谱、扩散情况，以及应力、杂质、紫外照射对光学中心强度与分裂情况的影响，结合同位素辅助技术，根据同位素引起缺陷质量变化而造成局部振动模偏移的特征，最后阐明金刚石光学中心对应的缺陷结构及电荷状态，并揭示其光致变色机理，为金刚石半导体器件制备及性能调控提供理论基础。 |
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