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图书信息
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公差配合与测量技术
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| ISBN： | 9787111517085 |
定价： | ￥46.80 |
| 作者： | 张兆隆，张晓芳主编 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2020年01月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 272页 |
中图法： | TG801 |
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179
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2026-02-11
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图书简介 | | 本书分基础篇和技能篇两部分，基础篇包括绪论、尺寸公差与配合、几何公差、表面结构，共4章；技能篇包括测量技术基础、孔轴尺寸测量、几何误差检测、典型机械产品精度检测、专用量具检测设计等内容。 |
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