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图书信息
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互换性与技术测量基础
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| ISBN： | 9787568059763 |
定价： | ￥38.00 |
| 作者： | 王莉静，郝龙，吴金文主编 |
出版社： | 华中科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2020年01月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 229页 |
中图法： | TG801 |
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2025-12-12
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图书简介 | | 本书分为8章，主要包括我国公差与配合方面的最新标准，阐述了技术测量的基本原理，主要包括绪论，测量技术基础，极限与配合，几何公差，表面粗糙度及其评定等。 |
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