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图书信息
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公差配合与技术测量基础
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| ISBN： | 9787512421820 |
定价： | ￥29.00 |
| 作者： | 张茜主编 |
出版社： | 北京航空航天大学出版社 |
| 出版时间： | 2017年02月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 154页 |
中图法： | TG801 |
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2025-09-02
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图书简介 | | 本书的主要内容包括极限与配合、技术测量基础及常用计量器具、几何公差、公差原则与公差要求、表面粗糙度等共6章。 |
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