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图书信息
公差配合与技术测量基础
ISBN:
9787512421820
定价:
¥29.00
作者:
张茜主编
出版社:
北京航空航天大学出版社
出版时间:
2017年02月
开本:
26cm
页数:
154页
中图法:
TG801
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304
2025-12-05
图书简介
本书的主要内容包括极限与配合、技术测量基础及常用计量器具、几何公差、公差原则与公差要求、表面粗糙度等共6章。
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清华大学出版社
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中国人民大学出版社
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