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图书信息
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公差配合与测量技术
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| ISBN： | 9787121267444 |
定价： | ￥42.80 |
| 作者： | 杨光龙，金文中，陈佳彬主编 |
出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版时间： | 2020年01月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 262页 |
中图法： | TG801 |
相关供货商
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北京人天书店有限公司
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库区2/库区3
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2025-12-16
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2025-12-16
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图书简介 | | 本书系统地介绍了公差配合与测量技术方面的基础知识，全书共分七个项目，并以任务形式进行讲解，形式新颖，通俗易懂，实用性强。内容主要包括：前言，极限配合与测量技术入门；测量零件线性尺寸；形状及位置公差及其检测；表面粗糙度及检测；测量角度、锥度；典型零件的测量；零件精密测量。 |
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