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图书信息
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公差配合与测量技术
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| ISBN: | 9787121267444 |
定价: | ¥42.80 |
| 作者: | 杨光龙,金文中,陈佳彬主编 |
出版社: | 电子工业出版社 |
| 出版时间: | 2020年01月 |
开本: | 26cm |
| 页数: | 262页 |
中图法: | TG801 |
相关供货商
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北京人天书店有限公司
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库区2/库区3
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2026-07-27
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其它供货商库存合计
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2026-07-24
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图书简介 | | 本书系统地介绍了公差配合与测量技术方面的基础知识,全书共分七个项目,并以任务形式进行讲解,形式新颖,通俗易懂,实用性强。内容主要包括:前言,极限配合与测量技术入门;测量零件线性尺寸;形状及位置公差及其检测;表面粗糙度及检测;测量角度、锥度;典型零件的测量;零件精密测量。 |
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