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图书信息
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材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析
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| ISBN： | 9787560313382 |
定价： | ￥36.80 |
| 作者： | 周玉，武高辉编著 |
出版社： | 哈尔滨工业大学出版社 |
| 出版时间： | 2007年08月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 311页 |
| 中图法： | TG115.23;TG115.21 |
印次： | 2018.12重印 |
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2026-04-20
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图书简介 | | 本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定等。 |
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