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图书信息
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公差与技术测量
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| ISBN： | 9787118062328 |
定价： | ￥26.00 |
| 作者： | 杨好学，蔡霞主编 |
出版社： | 国防工业出版社 |
| 出版时间： | 2009年07月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 11,224页 |
中图法： | TG801 |
印次： | 0 |
相关供货商
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北京人天书店有限公司
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2026-09-15
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其它供货商库存合计
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3
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2026-08-06
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图书简介 | | 本书采用最新的国家标准，介绍新国家标准的规定及应用。其内容包括：绪论、极限与配合、测量技术基础，几何公差，表面粗糙度，普通结合件的互换性，典型零件的公差与测量。 |
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