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图书信息
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加速试验:统计模型、试验设计与数据分析:statistical models, test plans, and data analysis
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ISBN: | 9787515916798 |
定价: | ¥128.00 |
作者: | (美)韦恩·B·纳尔逊(Wayne B. Nelson)著 |
出版社: | 中国宇航出版社 |
出版时间: | 2019年08月 |
开本: | 27cm |
页数: | 20,534页 |
装祯: | 精装 |
中图法: | N33 |
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2025-09-08
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图书简介 | 本书是美国可靠性领域著名专家Wayne B.Nelson博士撰写的关于加速试验设计与数据统计分析方面的经典著作,系统介绍了加速试验的统计模型、试验方案设计方法和数据分析方法,并给出了大量的相关实例。 |
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