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图书信息
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上扬子地块西缘壳幔电性结构特征研究
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| ISBN: | 9787121369278 |
定价: | ¥79.00 |
| 作者: | 覃庆炎著 |
出版社: | 电子工业出版社 |
| 出版时间: | 2020年01月 |
开本: | 24cm |
| 页数: | 11,200页 |
中图法: | P548.2;P319.2 |
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2026-08-21
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图书简介 | | 本书以大地电磁二维带地形反演成像为技术手段,采用大地电磁测深法(MT)和长周期大地电磁测深法(LMT)相结合的探测模式,结合地表地质和区域构造地质,从中上地壳和岩石圈两个不同分辨尺度对上扬子地块西缘深部壳幔电性结构进行了深入的研究,试图探索电性结构所代表的地质和动力学意义。 |
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