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图书信息
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材料结构与物性研究
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| ISBN： | 9787502476953 |
定价： | ￥55.00 |
| 作者： | 孙霄霄，张丹著 |
出版社： | 冶金工业出版社 |
| 出版时间： | 2018年01月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 137页 |
中图法： | TB303 |
印次： | 2019.11重印 |
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289
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2026-06-08
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图书简介 | | 本书采用基于密度泛函理论的第一性原理计算方法对半导体材料Si、二元半导体化合物(BiI3、Li3Bi、SbI3、AsI3)和过渡金属化合物(Mo2BC、Mo3AI2C)在高压下的结构、力学和电子性质进行了系统的研究。 |
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