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图书信息
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计算机测试与控制技术
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| ISBN： | 9787512430051 |
定价： | ￥119.00 |
| 作者： | 李行善，于劲松编著 |
出版社： | 北京航空航天大学出版社 |
| 出版时间： | 2019年09月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 575页 |
中图法： | TP306;TP273 |
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2026-06-15
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图书简介 | | 本书从工程应用的角度研究计算机测试与控制所涉及的理论与方法，使读者全面、系统地了解和掌握计算机测控工程系统的设计与实现方法。本书将计算机测控系统所涉及的共性问题，如计算机接口技术、测控总线技术、常用测控算法、软硬件抗干扰技术、测控系统的设计方法等归纳编写成独立章节进行讲述。 |
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