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图书信息
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面板数据模型中的高维检验研究
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| ISBN： | 9787513656771 |
定价： | ￥68.00 |
| 作者： | 魏杰著 |
出版社： | 中国经济出版社 |
| 出版时间： | 2019年07月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 209页 |
中图法： | F224.0 |
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2026-03-20
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图书简介 | | 在大数据时代背景下，随着微观和宏观层面数字信息的不断丰富完善，面板数据模型在实证研究中正受到日益广泛的重视和应用，各种基于面板数据特征的计量方法不断涌现，并被应用于解决经济中的重要现实问题。面板数据模型可以有效地处理个体和时间异质性效应，而在个体和时间维度较大的情形下，相应的计量估计会因高维数据而产生有别于以往传统方法的新特性。而现有的研究往往忽视了高维环境下面板模型的新特征，从而可能会得出谬误的研究结论。本书汇集了作者对面板模型的三类重要问题提出的检验理论方法，重点探讨了当待估或待检验参数维度增大的情况下，如何构造有效的计量检验加以甄别，从而对实证研究中特定方法的适用性问题提出建设性的科学建议。 |
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